Acurio, E., Trojman , L. , De Jaeger , B. y Bakeroot , B. 2022. Estudio de Confiabilidad en Diodos Basados en AlGaN/GaN Durante el Estado de Encendido. Revista Politécnica. 50, 1 (may 2022), 27–34. DOI:https://doi.org/10.33333/rp.vol50n1.03.