Acurio, E., Trojman , L. ., De Jaeger , B. ., & Bakeroot , B. . (2022). Estudio de Confiabilidad en Diodos Basados en AlGaN/GaN Durante el Estado de Encendido. Revista Politécnica, 50(1), 27–34. https://doi.org/10.33333/rp.vol50n1.03