Acurio, Eliana, Lionel Trojman, Brice De Jaeger, y Benoit Bakeroot. 2022. «Estudio De Confiabilidad En Diodos Basados En AlGaN/GaN Durante El Estado De Encendido». Revista Politécnica 50 (1):27-34. https://doi.org/10.33333/rp.vol50n1.03.