Acurio, E., Trojman , L. ., De Jaeger , B. . y Bakeroot , B. . (2022) «Estudio de Confiabilidad en Diodos Basados en AlGaN/GaN Durante el Estado de Encendido», Revista Politécnica, 50(1), pp. 27–34. doi: 10.33333/rp.vol50n1.03.