Acurio, E., L. . Trojman, B. . De Jaeger, y B. . Bakeroot. «Estudio De Confiabilidad En Diodos Basados En AlGaN/GaN Durante El Estado De Encendido». Revista Politécnica, vol. 50, n.º 1, mayo de 2022, pp. 27-34, doi:10.33333/rp.vol50n1.03.