Acurio, Eliana, Lionel Trojman, Brice De Jaeger, y Benoit Bakeroot. «Estudio De Confiabilidad En Diodos Basados En AlGaN/GaN Durante El Estado De Encendido». Revista Politécnica 50, no. 1 (mayo 25, 2022): 27–34. Accedido abril 26, 2024. https://revistapolitecnica.epn.edu.ec/ojs2/index.php/revista_politecnica2/article/view/1269.